我有科研輔助係統！
陳婉清將許秋引至一旁黑色的實驗台，上麵放有三台儀器，一台電腦。
“這三台儀器，分彆是紫外可見分光光度儀、熒光光譜儀、電化學工作站。”她一邊介紹，一邊指給許秋看。
“今天主要用到前兩個儀器，利用它們可以得到薄膜樣品的光吸收光譜和熒光光譜，一般簡稱為uvvis和l。”
陳婉清打開紫外可見分光光度儀和熒光光譜儀的電源，然後開啟電腦中uvvis的測試軟件。
等待了幾秒鐘，電腦顯示與儀器連接成功，同時彈出控製頁麵。
陳婉清邊操作邊講解道
“uvvis的測試原理是將各個波長的單色光分彆穿透樣品，在此過程中，部分光子被樣品吸收，然後測試入射光和出射光的強度，通過計算便能得到樣品對該波長光的透過率。
我們能測試的範圍大致在2001000納米。
實驗步驟也很簡單。
第一步，啟動光源；
第二步，測試空白樣品，也就是玻璃片，把它貼在樣品台上，點擊‘bnk’按鈕；
第三步，測試樣品，同樣也貼在樣品台上，點擊‘sale’按鈕，軟件會自動測試並扣除背景的。
這套儀器也可以用來測試溶液樣品，不過我們通常用它測薄膜。”
測試速度很快，電腦屏幕上出現了樣品的光吸收光譜，主要吸收峰的位置在400650納米處。
許秋現在還不懂解譜，便問道“學姐，怎麼樣，猜想正確嗎。”
“唔……”陳婉清考慮了一會兒，說道“從這張圖譜上來看，相比於正常旋塗條件下的樣品，現在它吸收峰的半峰寬更小。如果它的光吸收係數也同時提高的話，倒是可以解釋為聚合物結晶性的增加，但是現在不知道膜厚，所以無法計算光吸收係數。”
“那膜厚怎麼測呢？”許秋道。
“我們旋塗的有機薄膜，厚度一般在100納米左右，測它們厚度一般用橢偏儀或者用se測斷麵。
前者需要擬合參數，後者則需要在液氮冷卻的條件下掰斷基片，再測試斷麵的se，總之都不是很方便，而且就算測出來，計算出光吸收係數，這個數據也隻能作為佐證，因為它不夠直觀。
要想得到更直觀的證據，還是需要去魔都同步輻射中心，對樣品做掠入式x射線衍射實驗。”
陳婉清又將另外五個樣品測完，保存了數據，說道
“熒光光譜儀開啟後需要稍微預熱一會兒，現在應該差不多了。”
她打開熒光光譜儀的儀器蓋，將裡麵的樣品支架取出，貼上其中一片樣品後放回，接著道
“它的原理是用單色光照射樣品表麵，樣品分子吸收光子的能量，發出熒光，儀器收集其熒光信號。
根據能量守恒原理，單光子激發下，熒光的能量小於激發光的能量，也就是熒光的波長比激發光波長更長。
儀器有兩種模式，一種是給定激發光的波長，收集樣品在儀器檢測範圍內全波長的熒光信號；
另一種是給定一個激發光波長的範圍，收集給定波長的樣品熒光信號。
我們使用的是第一種模式，通常情況下，激發光的波長選擇樣品光吸收光譜中峰值對應的波長。
所以一般要先測試uvvis，再測試l。”
陳婉清打開l測試軟件，開始設置參數激發光波長550納米，熒光檢測範圍570到850納米。
“這個不需要空白基片，直接測量就好。極限測試範圍大致是300850納米。
操作就很簡單，把樣品放進去，旋轉樣品台使樣品與激發光源呈60度夾角，然後蓋好蓋子，啟動測試就可以了。”
陳婉清按下啟動鍵。